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對封頭開裂失效的分析

        通過對封頭開裂失效的分析可知:
        (1)裂紋起源於氣割凹槽處，性質為瞬間斷裂，垂直於斷口麵的氣割麵非常粗糙，在斷裂源的部位存在相對氣割麵較深的凹槽，並且在裂紋產生之後，裂紋麵存在被火焰灼傷的現象。
        (2)宏觀組織無偏析，組織致密均勻，未發現肉眼可見的不允許冶金缺陷，這說明失效與冶金無關。
        (3)從金相分析來看，夾雜物含量不高，顯微組織無明顯偏析，斷口邊緣存在因氣割而產生的深度較大的脫碳層，且在氣割麵表層發現起源於氣割麵的裂紋，在裂紋附近存在大量的夾渣。
        (4)從微觀斷口來看，斷裂源為線性，整個線性源區及附近區域氧化嚴重，並且存在較為密集的微裂紋和大量的非金屬氧化渣，這將導致整個氣割麵強度急劇下降，成為封頭的薄弱區。

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(責任編輯：封頭http://www.fjsxhg.com)

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